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  • 台式数显单晶硅片测厚仪

    台式数显单晶硅片测厚仪用于检测纸张、纸板、无纺布、薄膜和纺织品等的厚度。纸张型厚度仪用于检测包装用纸和涂布印刷纸的厚度,无纺布型厚度仪用于检测卫生纸和无纺布等薄型片状材料。瓦楞纸板型用于检测瓦楞纸板和纸箱类产品的厚度。同时可以用于检测薄膜、云母片、片状复合材料等等材料的厚度。

    更新时间:2023-03-07
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